Номер стандарта: SJ/T 11705-2018(SJ/T11705-2018)
Китайский:微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
Русский:Методы испытания импеданса земли и питания для корпусов микроэлектронных устройств
Дата вступления в силу:2018-04-01
Сфера стандарта:
PDF файл для скачивания: N
Вы можете нажать кнопку ниже, чтобы купить PDF-версию, и мы отправим её вам по электронной почте.Нажмите ниже, чтобы купить печатную версию. Отправка через FedEx в течение 7 дней. Полный возврат при отсутствии на складе.
Если у вас возникли следующие проблемы, пожалуйста, нажмите здесь, чтобы связаться с нами, и мы постараемся помочь вам.
1. Вы не можете найти стандартный документ, который вы ищете на нашем сайте.
2. Вы нашли стандартный документ, но наша страница указывает, что невозможно скачать в формате PDF.
3. Вам необходимо приобрести наш переведенный вариант.
