Номер стандарта: SJ/T 11702-2018(SJ/T11702-2018)
Китайский:半导体集成电路 串行外设接口测试方法
Русский:Методы тестирования последовательных периферийных интерфейсов полупроводниковых интегральных схем
Дата вступления в силу:2018-04-01
Сфера стандарта:
PDF файл для скачивания: N
Вы можете нажать кнопку ниже, чтобы купить PDF-версию, и мы отправим её вам по электронной почте.Нажмите ниже, чтобы купить печатную версию. Отправка через FedEx в течение 7 дней. Полный возврат при отсутствии на складе.
Если у вас возникли следующие проблемы, пожалуйста, нажмите здесь, чтобы связаться с нами, и мы постараемся помочь вам.
1. Вы не можете найти стандартный документ, который вы ищете на нашем сайте.
2. Вы нашли стандартный документ, но наша страница указывает, что невозможно скачать в формате PDF.
3. Вам необходимо приобрести наш переведенный вариант.
